一般來說，想提高模數(shù)轉(zhuǎn)換器的精度，勢必會引起成本的增加，這就要求我們按照具體的精度要求合理的設計模數(shù)轉(zhuǎn)換器，來達到具體的要求和降低系統(tǒng)的成本。在精度要求不是很高的場合，我們經(jīng)常利用嵌入微控制器片內(nèi)的A/D轉(zhuǎn)換器來實現(xiàn)模數(shù)轉(zhuǎn)換，以此來降低系統(tǒng)的成本，但由此又產(chǎn)生了另外的問題，嵌入式模數(shù)轉(zhuǎn)換器是否具有所要求的精度，若超出測量范圍如何與測量電路進行接口，以及如何減小微控制器的電磁干擾提高嵌入式模數(shù)轉(zhuǎn)換器的精度問題。這都要求我們采取不同的措施來提高嵌入式模數(shù)轉(zhuǎn)換器的精度。
1 精度與分辨率
ADC的精度和分辨率是兩個不同的概念。精度是指轉(zhuǎn)換器實際值與理論值之間的偏差；分辨率是指轉(zhuǎn)換器所能分辨的模擬信號的最小變化值。ADC 分辨率的高低取決于位數(shù)的多少。一般來講，分辨率越高，精度也越高，但是影響轉(zhuǎn)換器精度的因素很多，分辨率高的ADC，并不一定具有較高的精度。精度是偏移誤差、增益誤差、積分線性誤差、微分線性誤差、溫度漂移等綜合因素引起的總誤差。因量化誤差是模擬輸入量在量化取整過程中引起的，因此，分辨率直接影響量化誤差的大小，量化誤差是一種原理性誤差，只與分辨率有關，與信號的幅度，采樣速率無關，它只能減小而無法完全消除，只能使其控制在一定的范圍之內(nèi)，一般在±1／2LSB范圍內(nèi)。
1.1 偏移誤差
偏移誤差是指實際模數(shù)轉(zhuǎn)換曲線中數(shù)字0的代碼中點與理想轉(zhuǎn)換曲線中數(shù)字0的代碼中點的*差值電壓。這一差值電壓稱作偏移電壓，一般以滿量程電壓值的百分數(shù)表示。在一定溫度下，多數(shù)轉(zhuǎn)換器可以通過對外部電路的調(diào)整，使偏移誤差減小到接近于零，但當溫度變化時，偏移電壓又將出現(xiàn)，這主要是由于輸入失調(diào)電壓及溫漂造成的。一般來說，溫度變化較大時，要補償這一誤差是很困難的。
1.2 增益誤差
增益誤差是轉(zhuǎn)換器輸出全“1”時，實際模擬輸入電壓與理想模擬輸入電壓之差。它使傳輸特性曲線繞坐標原點偏離理想特性曲線一定的角度，即增益誤差表示模數(shù)轉(zhuǎn)換特性曲線的實際斜率與理想斜率的偏差，它的數(shù)值一般用滿量程的百分比來表示。
ADC的理想傳輸函數(shù)的關系式是
（1）
式中Un是沒有量化時的標準模擬電壓，由于存在增益誤差，式（1）變?yōu)?
（2）
式中的K為增益誤差因子。當K＝l時，沒有增益誤差。當K＞1時，傳輸特性曲線的斜率變大，臺階變窄，在輸入模擬信號達到滿量程值之前，數(shù)字輸出就己全“l(fā)”狀態(tài)。當K＜1時，傳輸特性曲線的斜率變小，臺階變寬，輸入模擬信號己超滿量程值時，數(shù)字輸出還未達到全“1”狀態(tài)輸出。
在一定溫度下，可通過外部電路的調(diào)整使K＝l，從而消除增益誤差。
1.3 線性誤差
線性誤差又稱積分線性誤差，是指在沒有偏移誤差和增益誤差的情況下，實際傳輸曲線與理想傳輸曲線之差。線性誤差一般不大于1／2LSB。因為線性誤差是由ADC特性隨輸入信號幅值變化而引起的，因此線性誤差是不能進行補償?shù)?，而且線性誤差的數(shù)值會隨溫度的升高而增加。
1.4 微分線性誤差
微分線性誤差是指實際代碼寬度與理想代碼寬度之間的*偏差，以LSB為單位，微分線性誤差也常用無失碼分辨率表示。
由于時間和溫度的變化，電源可能會有一定的變化，有時可能是造成影響ADC精度的主要原因，因此在要求比較高的場合，必須保證電源的穩(wěn)定性，使其隨溫度和時間的變化量在所允許的范圍之內(nèi)，但在一般的場合，往往可以不考慮其對系統(tǒng)的影響。
2 嵌入式模數(shù)轉(zhuǎn)換器的結(jié)構(gòu)及影響轉(zhuǎn)換的原因和消除方法
所謂嵌入式模數(shù)轉(zhuǎn)換器是指將模擬多路開關、采樣保持、A/D轉(zhuǎn)換、微控制器集成在一個芯片上，經(jīng)常采用逐次比較型進行A/D轉(zhuǎn)換，模擬輸入信號一般為非負單極性，且輸入信號的電壓范圍為0～AVREF，A/D轉(zhuǎn)換器具有獨立的模擬電源與參考電壓。
在實際應用中，由于輸入信號的輸出電阻不同，如果輸出電阻過大，會引起實際測量的電壓分壓過小，因而引起測量值較實際值偏??；或者由于輸入信號為雙極性模擬信號，不能直接與嵌入式微控制器相連，必須采取特殊措施，使雙極性模擬信號轉(zhuǎn)換為可以直接測量的非負單極性信號；還有如果輸入信號幅值過大，以至于超過參考電壓，也必須引入將壓環(huán)節(jié)，使輸入電壓低于參考電壓，等等，下面對以上影響逐一進行分析。
2.1 模擬輸入信號阻抗對采樣的影響
采樣過程是采樣電容充電，跟蹤輸入模擬信號電壓的過程，由于采樣電路存在模擬多路開關阻抗、采樣開關阻抗和輸入信號源阻抗，因此，其轉(zhuǎn)換時間受模擬多路開關阻抗、采樣開關阻抗與輸入信號源阻抗的影響，模擬多路開關與輸入信號源的阻抗越大則其轉(zhuǎn)換時間越長。
逐次比較型A/D的輸入端等效電路如下圖所示：
圖1 逐次比較型A/D的輸入端等效電路
其中，RIN為輸入模擬信號內(nèi)阻，VS為輸入模擬電壓信號，RSH為模擬多路開關與采樣開關的等效電阻，VSH為采樣電容的充電電壓，由等效電路可以看出，輸入模擬信號內(nèi)阻越大，則采樣電容充電時間越長，因此，對于采樣頻率要求越高的場合，要求模擬輸入信號內(nèi)阻必須越小，在應用時必須首先估算在規(guī)定的采樣頻率下，對模擬輸入信號內(nèi)阻的要求。由電路理論可以求得RIN所允許的*值（假設采樣時間為T）：
如果信號源內(nèi)阻達不到要求，則需使用一個輸出阻抗很小的緩沖器，例如可以使用電壓跟隨器，使信號源的輸出阻抗達到A/D轉(zhuǎn)
