無錫單片機編程培訓(xùn)學(xué)校,都說無錫單片機培訓(xùn)現(xiàn)在很火,我們通過如何學(xué)好單片機,如何測試單片機系統(tǒng)的可靠性,如何減少單片機程序中的bug看一下是怎么讓認(rèn)識的人越來越多的。
1.如何學(xué)好單片機
對于初學(xué)者來說,最迷惑的莫過于了解單片機芯片的結(jié)構(gòu),以及為什么一顆小小的芯片就能完成如此神奇的功能。另外,要想真正了解單片機的內(nèi)部成果,首先要對電路基礎(chǔ)、模擬電路、數(shù)字電路等有扎實的了解,否則學(xué)習(xí)可能是空中樓閣。學(xué)習(xí)單片機最重要的一點就是要理清邏輯思維,不要搞混,不要搞亂邏輯關(guān)系。對于單片機的初學(xué)者來說,要學(xué)會用流程圖的形式清楚地表達一個程序的邏輯關(guān)系。至于用于編寫程序的單片機的語言,很簡單,不要以為它很神秘。單片機正在迅速變化,但它本質(zhì)保持不變。只要了解了它們的基本原理和結(jié)構(gòu)思想,無論怎么變,都可以學(xué)會。
2.如何測試單片機系統(tǒng)的可靠性
用什么方法來測試單片機系統(tǒng)的可靠性。在設(shè)計單片機系統(tǒng)時,針對不同的單片機系統(tǒng)產(chǎn)品會有不同的測試項目和方法,但有些是必須測試的:1、測試單片機軟件功能的完整性。這是對單片機系統(tǒng)所有功能的測試,以測試軟件是否編寫正確和完整。2、上電和掉電測試。用戶在使用中難免會遇到上電和掉電的情況,可以多次切換電源來測試單片機系統(tǒng)的可靠性。3、老化測試。測試單片機系統(tǒng)在長期工作條件下的可靠性。必要時可在高溫、高壓、強電磁干擾的環(huán)境中進行測試。4、ESD和EFT測試。各種干擾模擬器可用于測試單片機系統(tǒng)的可靠性。例如,使用靜電模擬器測試單片機系統(tǒng)的抗靜電ESD能力;使用浪涌噪聲模擬器進行快速脈沖抗干擾EFT測試等。
3.如何減少單片機程序中的bug
如何減少單片機程序bug,系統(tǒng)運行時應(yīng)考慮的超范圍管理參數(shù)有:1.物理參數(shù)。這些參數(shù)主要是系統(tǒng)的輸入?yún)?shù),包括激勵參數(shù)、采集過程中的運行參數(shù)和過程結(jié)束時的結(jié)果參數(shù)。合理設(shè)置這些邊界,將超出邊界的參數(shù)視為異常激勵或異常響應(yīng)進行錯誤處理。2.資源參數(shù)。這些參數(shù)主要是系統(tǒng)中電路、器件和功能單元的資源,如內(nèi)存容量、存儲單元長度、堆疊深度等。在編程中,不允許超出范圍使用資源參數(shù)。3.應(yīng)用參數(shù)。 這些應(yīng)用參數(shù)往往表示為一些單片機和功能單元的應(yīng)用條件。如E2PROM擦除次數(shù)和數(shù)據(jù)存儲時間等應(yīng)用參數(shù)限制。4.過程參數(shù),指系統(tǒng)運行中參數(shù)的有序變化。
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